軟件測(cè)試與質(zhì)量保證

內(nèi)容概要

《軟件測(cè)試與質(zhì)量保證:理論與實(shí)踐》是有關(guān)軟件測(cè)試與質(zhì)量保證的一本理想入門(mén)教材，全書(shū)共分18章，主要內(nèi)容包括測(cè)試的基本概念、程序測(cè)試?yán)碚?、單元測(cè)試、控制流測(cè)試、數(shù)據(jù)流測(cè)試、域測(cè)試、系統(tǒng)集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試分類(lèi)、功能測(cè)試、從有限狀態(tài)機(jī)模型生成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試設(shè)計(jì)、系統(tǒng)測(cè)試計(jì)劃與自動(dòng)化、系統(tǒng)測(cè)試的執(zhí)行、驗(yàn)收測(cè)試、軟件可靠性、測(cè)試團(tuán)隊(duì)的組織結(jié)構(gòu)、軟件質(zhì)量及成熟度模型等?！盾浖y(cè)試與質(zhì)量保證:理論與實(shí)踐》的兩位作者奈克、特里帕蒂在軟件測(cè)試方面有著豐富的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，全書(shū)既有側(cè)重測(cè)試?yán)碚摰母拍钪v解，也有實(shí)際應(yīng)用的經(jīng)驗(yàn)總結(jié)。 
《軟件測(cè)試與質(zhì)量保證:理論與實(shí)踐》既可作為高等院校相關(guān)專(zhuān)業(yè)軟件測(cè)試、質(zhì)量保證、軟件工程等課程的教材，也可作為軟件測(cè)試愛(ài)好者的自學(xué)用書(shū)。對(duì)于那些希望增強(qiáng)軟件測(cè)試方面知識(shí)的程序員、軟件項(xiàng)目經(jīng)理和軟件開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)的其他人員，《軟件測(cè)試與質(zhì)量保證:理論與實(shí)踐》也具有很好的參考價(jià)值。

作者簡(jiǎn)介

作者：（加拿大）奈克（Kshirasagar Naik） （美國(guó)）特里帕蒂（Priyadarshi Tripathy） 譯者：郁蓮 等  奈克（Kshirasagar Naik），是加拿大滑鐵盧大學(xué)電氣與計(jì)算機(jī)工程學(xué)院的副教授。此前，他是印度班加羅爾地區(qū)Wipro科技公司的一名軟件開(kāi)發(fā)工程師。Naik博士在軟件測(cè)試領(lǐng)域的很多雜志及會(huì)議上發(fā)表過(guò)大量的文章。Priyadarshi Tripathy博士是NEC美國(guó)實(shí)驗(yàn)室有限公司的一名資深經(jīng)理，他負(fù)責(zé)設(shè)計(jì)、協(xié)調(diào)和領(lǐng)導(dǎo)基于網(wǎng)格存儲(chǔ)的應(yīng)用程序的軟件測(cè)試。Tnpathy博士曾在Nortel Nelnorks、Cisco Systems和Airvana等公司從事軟件測(cè)試與質(zhì)量保證的工作，也發(fā)表過(guò)很多軟件測(cè)試領(lǐng)域的文章。

書(shū)籍目錄

第1章 基本概念和預(yù)備知識(shí) 1.1質(zhì)量革命 1.2軟件質(zhì)量 1.3軟件測(cè)試的作用 1.4驗(yàn)證和確認(rèn) 1.5失敗、錯(cuò)誤、故障和缺陷 1.6軟件可靠性的概念 1.7測(cè)試的目標(biāo) 1.8什么是測(cè)試用例 1.9期望結(jié)果 1.10完備測(cè)試的概念 1.11測(cè)試的核心問(wèn)題 1.12測(cè)試活動(dòng) 1.13測(cè)試階段 1.14測(cè)試用例選擇的信息來(lái)源 1.15白盒測(cè)試與黑盒測(cè)試 1.16測(cè)試計(jì)劃和設(shè)計(jì) 1.17監(jiān)測(cè)并度量測(cè)試執(zhí)行 1.18測(cè)試工具和自動(dòng)化 1.19測(cè)試團(tuán)隊(duì)的組織和管理 1.20本書(shū)概述 參考文獻(xiàn) 習(xí)題 第2章 程序測(cè)試?yán)碚?2.1測(cè)試?yán)碚撝械幕靖拍?2.2G00denough和Gerhart理論 2.2.1基本概念 2.2.2測(cè)試?yán)碚?2.2.3程序錯(cuò)誤 2.2.4可靠性條件 2.2.5理論的缺點(diǎn) 2.3Weyuker和Ostrand理論 2.4Gourlay理論 2.4.1幾個(gè)定義 2.4.2測(cè)試方法的能力 2.5測(cè)試的足夠性 2.6測(cè)試的局限性 2.7總結(jié) 文獻(xiàn)綜述 參考文獻(xiàn) 習(xí)題 第3章 單元測(cè)試 3.1單元測(cè)試的概念 3.2靜態(tài)單元測(cè)試 3.3缺陷預(yù)防 3.4動(dòng)態(tài)單元測(cè)試 3.5變異測(cè)試 3.6調(diào)試 3.7極限編程中的單元測(cè)試 3.8JUnit：?jiǎn)卧獪y(cè)試框架 3.9單元測(cè)試工具 3.10總結(jié) 文獻(xiàn)綜述 參考文獻(xiàn) 習(xí)題 第4章 控制流測(cè)試 4.1基本概念 4.2控制流測(cè)試概述 4.3控制流圖 4.4控制流圖中的路徑 4.5路徑選擇標(biāo)準(zhǔn) 4.5.1全路徑覆蓋原則 4.5.2語(yǔ)句覆蓋原則 4.5.3分支覆蓋原則 4.5.4謂詞覆蓋原則 4.6生成測(cè)試輸入 4.7選擇測(cè)試數(shù)據(jù)的示例 4.8包含無(wú)效路徑 4.9總結(jié) 文獻(xiàn)綜述 參考文獻(xiàn) 習(xí)題 第5章 數(shù)據(jù)流測(cè)試 5.1一般概念 5.2數(shù)據(jù)流異常 5.3動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)流測(cè)試概述 5.4數(shù)據(jù)流圖 5.5數(shù)據(jù)流術(shù)語(yǔ) 5.6數(shù)據(jù)流測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 5.7數(shù)據(jù)流測(cè)試選擇標(biāo)準(zhǔn)的比較 5.8可行路徑和測(cè)試選擇標(biāo)準(zhǔn) 5.9測(cè)試技術(shù)的比較 5.10總結(jié) 文獻(xiàn)綜述 參考文獻(xiàn) 習(xí)題 第6章 域測(cè)試 6.1域錯(cuò)誤 6.2域錯(cuò)誤測(cè)試 6.3域的源 6.4域錯(cuò)誤的類(lèi)型 6.5ON點(diǎn)和OFF點(diǎn) 6.6測(cè)試選擇標(biāo)準(zhǔn) 6.7總結(jié) 文獻(xiàn)綜述 參考文獻(xiàn) 習(xí)題 第7章 系統(tǒng)集成測(cè)試 7.1集成測(cè)試的概念 7.2接口的不同類(lèi)型和接口錯(cuò)誤 7.3系統(tǒng)集成測(cè)試的粒度 7.4系統(tǒng)集成技術(shù) 7.4.1增量法 7.4.2自頂向下 7.4.3自底向上 7.4.4三明治方式和大爆炸方式 7.5軟件和硬件的集成 7.5.1硬件設(shè)計(jì)驗(yàn)證測(cè)試 7.5.2硬件/軟件兼容性矩陣 7.6系統(tǒng)集成的測(cè)試計(jì)劃 7.7現(xiàn)成組件集成 7.7.1現(xiàn)成組件的測(cè)試 7.7.2內(nèi)置測(cè)試 7.8總結(jié) 文獻(xiàn)綜述 參考文獻(xiàn) 習(xí)題 第8章 系統(tǒng)測(cè)試分類(lèi) 8.1系統(tǒng)測(cè)試分類(lèi)法 8.2基礎(chǔ)測(cè)試 8.2.1啟動(dòng)測(cè)試 8.2.2升級(jí)/降級(jí)測(cè)試 8.2.3發(fā)光二極管測(cè)試 8.2.4診斷程序測(cè)試 8.2.5命令行界面測(cè)試 8.3功能性測(cè)試 8.3.1通信系統(tǒng)測(cè)試 8.3.2模塊測(cè)試 8.3.3記錄和跟蹤測(cè)試 8.3.4元素管理系統(tǒng)（EMS）測(cè)試 8.3.5管理信息基礎(chǔ)測(cè)試 8.3.6圖形用戶界面測(cè)試 8.3.7安全性測(cè)試 8.3.8特征測(cè)試 8.4健壯性測(cè)試 8.4.1邊界值測(cè)試 8.4.2電力循環(huán)測(cè)試 8.4.3在線插入和刪除測(cè)試 8.4.4高可用性測(cè)試 8.4.5降級(jí)節(jié)點(diǎn)測(cè)試 8.5互操作性測(cè)試 8.6性能測(cè)試 8.7可擴(kuò)展性測(cè)試 8.8壓力測(cè)試 8.9負(fù)載和穩(wěn)定性測(cè)試 8.10可靠性測(cè)試 8.11回歸測(cè)試 8.12文檔測(cè)試 8.13規(guī)章測(cè)試 8.14總結(jié) 文獻(xiàn)綜述 參考文獻(xiàn) 習(xí)題 第9章 功能測(cè)試 9.1Howden的功能測(cè)試的概念 9.1.1變量的不同類(lèi)型 9.1.2測(cè)試向量 9.1.3在上下文中測(cè)試一個(gè)函數(shù) 9.2應(yīng)用功能測(cè)試的復(fù)雜度 9.3成對(duì)測(cè)試 9.3.1正交矩陣 9.3.2參數(shù)順序算法 9.4等價(jià)類(lèi)劃分 9.5邊界值分析 9.6判定表 9.7隨機(jī)測(cè)試 9.8錯(cuò)誤猜測(cè) 9.9范疇劃分 9.10總結(jié) 文獻(xiàn)綜述 參考文獻(xiàn) 習(xí)題 …… 第10章 從有限狀態(tài)機(jī)模型生成測(cè)試 第11章 系統(tǒng)測(cè)試設(shè)計(jì) 第12章 系統(tǒng)測(cè)試計(jì)劃與自動(dòng)化 第13章 系統(tǒng)測(cè)試的執(zhí)行 第14章 驗(yàn)收測(cè)試 第15章 軟件可靠性 第16章 測(cè)試團(tuán)隊(duì)的組織結(jié)構(gòu) 第17章 軟件質(zhì)量 第18章 成熟度模型 術(shù)語(yǔ)表

章節(jié)摘錄

版權(quán)頁(yè)：   插圖：   變異測(cè)試有2條假設(shè)： 1.開(kāi)發(fā)人員能力假設(shè)。這條假設(shè)說(shuō)明開(kāi)發(fā)人員通常有足夠的能力，他們通常不會(huì)寫(xiě)出“隨機(jī)”的程序。因此我們假設(shè)，對(duì)于一個(gè)給定的問(wèn)題，開(kāi)發(fā)人員會(huì)寫(xiě)出正確的程序，除了微小錯(cuò)誤之外。換句話說(shuō)，將變異體看成是只與原程序有微小的偏差。在實(shí)踐中，這些變異體通過(guò)對(duì)被測(cè)程序進(jìn)行“變異算子”的方法來(lái)創(chuàng)建，這是一系列系統(tǒng)化和規(guī)范化的轉(zhuǎn)換。這些變異算子用于建立開(kāi)發(fā)人員在開(kāi)發(fā)程序時(shí)所犯的錯(cuò)誤的模型。在實(shí)際中，這可能只是部分正確。 2.耦合效應(yīng)。這條假設(shè)首先由DeMillo等人在1978年提出。這條假設(shè)可以總結(jié)為，復(fù)雜的錯(cuò)誤都是和簡(jiǎn)單的錯(cuò)誤相耦合，如果一個(gè)測(cè)試套件能夠發(fā)現(xiàn)程序中所有的簡(jiǎn)單錯(cuò)誤，它也將發(fā)現(xiàn)絕大多數(shù)復(fù)雜錯(cuò)誤。這條假設(shè)已經(jīng)由Offutt做出經(jīng)驗(yàn)上的證明，并且由Wah給出了理論上的證明。變異測(cè)試的基本前提由Geist等人首先提出：如果軟件中包含錯(cuò)誤，那么通常將有一組變異體，它們只能被某個(gè)測(cè)試用例殺死，并且該測(cè)試用例也能發(fā)現(xiàn)這個(gè)錯(cuò)誤。

編輯推薦

《軟件測(cè)試與質(zhì)量保證:理論與實(shí)踐》是為了向?qū)W生和軟件專(zhuān)業(yè)人員介紹測(cè)試?yán)碚?、測(cè)試技術(shù)、測(cè)試實(shí)踐及質(zhì)量保證的基本思想。對(duì)于在軟件工程、計(jì)算機(jī)科學(xué)及計(jì)算機(jī)工程上沒(méi)有軟件行業(yè)經(jīng)驗(yàn)的本科生，我們將使用循序漸進(jìn)的方式一步步為其介紹主題內(nèi)容。從業(yè)人員也將受益于結(jié)構(gòu)性的介紹和綜合性的材料。研究生可以使用這本書(shū)作為參考文獻(xiàn)。完整閱讀《軟件測(cè)試與質(zhì)量保證:理論與實(shí)踐》，讀者將會(huì)對(duì)下列主題有一個(gè)透徹的了解：測(cè)試?yán)碚摵突A(chǔ)概念；支持生產(chǎn)高質(zhì)量的軟件的實(shí)踐；軟件測(cè)試技術(shù)；需求、缺陷、測(cè)試用例和測(cè)試結(jié)果的生命周期模型；單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試和驗(yàn)收測(cè)試的過(guò)程模型；建立測(cè)試團(tuán)隊(duì)，其中包括招聘測(cè)試工程師和保留人才的方法；質(zhì)量模型、能力成熟度模型、測(cè)試成熟度模型及測(cè)試過(guò)程改進(jìn)模型。

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