大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)教程

內(nèi)容概要

　　《高等學(xué)校規(guī)劃教材：大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)教程》是按照教育部高等學(xué)校非物理類專業(yè)物理基礎(chǔ)課程教學(xué)指導(dǎo)分委員會(huì)于2008年制定的《非物理類理工學(xué)科大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)課程教學(xué)基本要求》編寫而成的。全書分七章，共有實(shí)驗(yàn)49個(gè)。第一章講解了誤差理論；第二章講解了物理實(shí)驗(yàn)常用測量方法；第三章講解了物理實(shí)驗(yàn)常用儀器；第四章介紹了涵蓋力學(xué)、熱學(xué)、光學(xué)和電磁學(xué)的基礎(chǔ)性實(shí)驗(yàn)；第五章介紹了綜合性實(shí)驗(yàn)；第六章介紹了設(shè)計(jì)性實(shí)驗(yàn)；第七章介紹了計(jì)算機(jī)在物理實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用。書后附錄包括了物理常數(shù)表、中華人民共和國法定計(jì)量單位（摘錄）?！　　陡叩葘W(xué)校規(guī)劃教材：大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)教程》可作為各類高等院校工科專業(yè)和理科非物理類專業(yè)的本科或?qū)？莆锢韺?shí)驗(yàn)教材，也可作為實(shí)驗(yàn)技術(shù)人員、相關(guān)課程教師及其他科技工作者的參考書。

書籍目錄

緒論第一章 誤差理論第一節(jié) 測量誤差基本知識(shí)第二節(jié) 測量不確定度評(píng)定與表示第三節(jié) 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)修約第四節(jié) 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理方法第五節(jié) 隨機(jī)變量的統(tǒng)計(jì)分布第二章 物理實(shí)驗(yàn)常用測量方法第一節(jié) 比較法第二節(jié) 放大法第三節(jié) 轉(zhuǎn)換法第四節(jié) 補(bǔ)償法第五節(jié) 平衡法第六節(jié) 模擬法第七節(jié) 干涉法第三章 物理實(shí)驗(yàn)常用儀器第一節(jié) 力學(xué)、熱學(xué)常用儀器第二節(jié) 電磁學(xué)常用儀器第三節(jié) 光學(xué)常用儀器第四章 基礎(chǔ)性實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)1 基本測量實(shí)驗(yàn)2 用波爾共振儀研究受迫振動(dòng)實(shí)驗(yàn)3 金屬彈性模量的測定實(shí)驗(yàn)4 金屬桿線膨脹系數(shù)的測定實(shí)驗(yàn)5 液體黏度的測定實(shí)驗(yàn)6 模擬法測繪靜電場實(shí)驗(yàn)7 伏安法測電阻實(shí)驗(yàn)8 用惠斯通電橋測電阻實(shí)驗(yàn)9 用電位差計(jì)測量電動(dòng)勢實(shí)驗(yàn)10 霍爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)11 運(yùn)用示波器顯示李薩如圖形實(shí)驗(yàn)12 聲速的測量實(shí)驗(yàn)13 分光儀的調(diào)整和玻璃折射率的測定實(shí)驗(yàn)14 用干涉法測量透鏡的曲率半徑實(shí)驗(yàn)15 汞燈光波波長的測定實(shí)驗(yàn)16 單縫衍射的光強(qiáng)分布及測量實(shí)驗(yàn)17 偏振法測葡萄糖溶液的濃度實(shí)驗(yàn)18 機(jī)械能守恒定律的驗(yàn)證第五章 綜合性實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)19 弦振動(dòng)實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)20 邁克耳遜干涉儀的應(yīng)用實(shí)驗(yàn)21 利用光電效應(yīng)測量普朗克常數(shù)實(shí)驗(yàn)22 磁聚焦法測定電子荷質(zhì)比實(shí)驗(yàn)23 電子電荷的測定——密立根油滴實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)24 組合干涉儀實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)25 光纖傳感器測量溫度實(shí)驗(yàn)26 PN結(jié)正向壓降與溫度關(guān)系的研究和應(yīng)用實(shí)驗(yàn)27 傳感器的原理與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)28 用光拍頻法測量空氣中的光速實(shí)驗(yàn)29 音頻信號(hào)光纖傳輸技術(shù)實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)30 電子動(dòng)能分布的實(shí)驗(yàn)測定實(shí)驗(yàn)31 模擬電冰箱制冷系數(shù)的測量實(shí)驗(yàn)32 夫蘭克一赫茲實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)33 夫蘭克一赫茲實(shí)驗(yàn)（計(jì)算機(jī)控制）實(shí)驗(yàn)34 紅外、光導(dǎo)和全息實(shí)驗(yàn)35 動(dòng)態(tài)法測定彈性模量實(shí)驗(yàn)36 鎢的逸出功的測定實(shí)驗(yàn)37 鐵磁材料居里溫度的測定第六章 設(shè)計(jì)性實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)38 直流濺射法制備金屬薄膜實(shí)驗(yàn)39 干涉法測量薄膜的厚度實(shí)驗(yàn)40 金屬薄膜電阻的動(dòng)態(tài)監(jiān)測實(shí)驗(yàn)41 金屬薄膜電阻率的測量實(shí)驗(yàn)42 用干涉方法測量薄膜應(yīng)力實(shí)驗(yàn)43 CCD光柵光譜儀與光譜分析實(shí)驗(yàn)44 測定物質(zhì)的光吸收譜實(shí)驗(yàn)45 RLC串聯(lián)電路的暫態(tài)過程實(shí)驗(yàn)46 剛體轉(zhuǎn)動(dòng)慣量的實(shí)驗(yàn)測定實(shí)驗(yàn)47 電表的改裝與校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)48 簡諧振動(dòng)的研究實(shí)驗(yàn)49 硅光電池特性研究第七章 計(jì)算機(jī)在物理實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用第一節(jié) 計(jì)算機(jī)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理及實(shí)驗(yàn)演示程序示例第二節(jié) 計(jì)算機(jī)仿真物理實(shí)驗(yàn)簡介第三節(jié) 仿真實(shí)驗(yàn)示例：邁克耳遜干涉儀附錄附錄1物理常數(shù)表附錄2中華人民共和國法定計(jì)量單位（摘錄）參考文獻(xiàn)

章節(jié)摘錄

　?。?）搭建測量光路。在讀數(shù)顯微鏡的載物臺(tái)上放上待測膜厚的薄膜樣品（薄膜樣品的背面標(biāo)有黑色圓點(diǎn)），如圖6.3 9.3 所示。鈉光光源發(fā)射出來的光通過待測樣品上方的一個(gè)傾斜度可調(diào)的分光鏡M（其支架未畫出）反射后垂直入射到待測樣品上。分光鏡M的作用一方面是使光源射來的光經(jīng)它反射后垂直入射到待測樣品上；另一方面，它又可以透過光，故可自上面的顯微鏡觀察到由待測樣品和半透膜板P構(gòu)成的空氣劈尖產(chǎn)生的干涉條紋。由于干涉條紋的間距很窄，須用讀數(shù)顯微鏡來測量它們之間的間距。根據(jù)圖6.3 9.1 和圖6.3 9.3 所示的干涉法測量薄膜膜厚的原理及儀器示意圖，搭建好測量光路。特別注意，在光路中，用半透膜板同待測薄膜樣品構(gòu)成一個(gè)空氣劈尖。仔細(xì)調(diào)節(jié)光路（例如讀數(shù)顯微鏡、分光鏡M的角度、半透膜板P和待測樣品的相對(duì)位置），直到觀察到如圖6.3 9.2 所示的清晰的干涉條紋?！　∽源畎胪改ぐ逋郎y薄膜樣品構(gòu)成空氣劈尖時(shí)，應(yīng)將半透膜板有膜的一面朝下（請(qǐng)思考其原因？），且在與金薄膜或銀薄膜之間不能有過大的灰塵顆粒（請(qǐng)思考其原因？）。當(dāng)調(diào)節(jié)空氣劈尖的夾角時(shí)，要防止因摩擦損壞兩個(gè)面上的薄膜。必要時(shí)用氣鼓吹凈半透膜板P和待測樣品的表面。

圖書封面

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