粉末多晶X射線衍射技術(shù)原理及應(yīng)用

前言

X射線衍射技術(shù)是研究材料的晶體結(jié)構(gòu)及其變化規(guī)律的不可或缺的有力工具，且X射線衍射分析方法具有所需樣品數(shù)量少、對(duì)樣品的破壞性微小、對(duì)結(jié)構(gòu)和缺陷靈敏等特點(diǎn)，在冶金、機(jī)械、地質(zhì)、化工、礦物、陶瓷、建材、耐火材料等諸多領(lǐng)域都得到了廣泛應(yīng)用。本書共分12章，側(cè)重于講述衍射技術(shù)的應(yīng)用。第1章和第2章為晶體學(xué)和X射線衍射原理，第3章和第4章為X射線衍射設(shè)備及衍射數(shù)據(jù)，第5章為計(jì)算機(jī)在多晶衍射技術(shù)中的應(yīng)用，第6章為x射線物相定性和定量分析方法，第7章為X射線的小角度衍射介紹，第8章為晶體點(diǎn)陣的測(cè)試原理與方法，第9章為結(jié)晶度的測(cè)試原理與計(jì)算方法，第10章為X射線衍射技術(shù)測(cè)定宏觀應(yīng)力，第11章為Rietveld方法簡(jiǎn)介，第12章為X射線衍射技術(shù)在冶金和機(jī)械工業(yè)、地球和采礦工業(yè)、生物和醫(yī)藥工業(yè)、能源、陶瓷和建材、功能材料以及復(fù)合材料等領(lǐng)域的應(yīng)用實(shí)例。本書是為材料科學(xué)與工程領(lǐng)域各有關(guān)專業(yè)編寫的教材，它適用于金屬物理、化學(xué)、醫(yī)學(xué)、粉末冶金、材料科學(xué)與工程、地質(zhì)和礦物等專業(yè)，可作為高等學(xué)?；ぁ⒉牧霞拔锢眍愑嘘P(guān)專業(yè)的本科生、研究生的教科書，也可作為相關(guān)科研工作者及從事x射線衍射試驗(yàn)測(cè)試技術(shù)人員的參考書。感謝鄭州大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院賈曉林教授對(duì)本書工作的指導(dǎo)和幫助。由于編者水平有限，書中難免有錯(cuò)誤和不足之處，誠(chéng)懇地希望同行和廣大讀者批評(píng)指正。

內(nèi)容概要

　　《粉末多晶X射線衍射技術(shù)原理及應(yīng)用》共分12章，側(cè)重于講述衍射技術(shù)的應(yīng)用。第1章和第2章為晶體學(xué)和X射線衍射原理，第3章和第4章為X射線衍射設(shè)備及衍射數(shù)據(jù)，第5章為計(jì)算機(jī)在多晶衍射技術(shù)中的應(yīng)用，第6章為x射線物相定性和定量分析方法，第7章為X射線的小角度衍射介紹，第8章為晶體點(diǎn)陣的測(cè)試原理與方法，第9章為結(jié)晶度的測(cè)試原理與計(jì)算方法，第10章為X射線衍射技術(shù)測(cè)定宏觀應(yīng)力，第11章為Rietveld方法簡(jiǎn)介，第12章為X射線衍射技術(shù)在冶金和機(jī)械工業(yè)、地球和采礦工業(yè)、生物和醫(yī)藥工業(yè)、能源、陶瓷和建材、功能材料以及復(fù)合材料等領(lǐng)域的應(yīng)用實(shí)例。

書籍目錄

第1章 衍射計(jì)算中常用的晶體學(xué)表示方法1.1 晶系1.2 晶體的對(duì)稱性1.3 點(diǎn)群(對(duì)稱類型)1.4 布拉格點(diǎn)陣1.5 空間群第2章 X射線物理基礎(chǔ)2.1 X射線的產(chǎn)生及性質(zhì)2.2 X射線衍射原理2.3 倒易矢量、倒易點(diǎn)陣及反射球2.4 粉晶X射線衍射第3章 X射線衍射方法3.1 粉晶衍射儀法3.2 其他X射線衍射儀第4章 X射線衍射數(shù)據(jù)4.1 衍射峰位的確定方法4.2 衍射線峰形4.3 X射線衍射強(qiáng)度4.4 衍射線分離第5章 計(jì)算機(jī)在多晶體衍射中的應(yīng)用5.1 實(shí)驗(yàn)譜的基本處理5.2 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的分析與應(yīng)用5.3 相關(guān)機(jī)構(gòu)、網(wǎng)站、數(shù)據(jù)庫(kù)第6章 X射線物相分析6.1 定性相分析6.2 定量相分析第7章 X射線的小角度散射7.1 X射線小角度散射原理7.2 X射線小角度散射實(shí)驗(yàn)7.3 X射線小角度散射的應(yīng)用第8章 晶體點(diǎn)陣常數(shù)的精確測(cè)量8.1 原理8.2 德拜一謝樂法的系統(tǒng)誤差8.3 衍射儀法的主要誤差8.4 晶體點(diǎn)陣常數(shù)的精確測(cè)定8.5 非立方晶系晶體點(diǎn)陣常數(shù)的精確測(cè)定8.6 應(yīng)用同步輻射源第9章 材料結(jié)晶度的計(jì)算9.1 無機(jī)礦物結(jié)晶度測(cè)定方法9.2 聚合物材料結(jié)晶度9.3 晶體粒度太小及比表面積的測(cè)定第10章 宏觀應(yīng)力的測(cè)定10.1 彈性應(yīng)力和應(yīng)變的關(guān)系10.2 X射線測(cè)定表面應(yīng)力10.3 應(yīng)用衍射儀測(cè)定應(yīng)力的方法10.4 X射線應(yīng)力測(cè)量舉例及若干實(shí)際問題第11章 X射線衍射結(jié)構(gòu)分析的Rietveld法11.1 Rietveld法概述11.2 Rietveld法的基本原理11.3 Rietveld法修正晶體結(jié)構(gòu)策略11.4 修正過程常出現(xiàn)的問題和對(duì)策11.5 Rietveld法的應(yīng)用第12章 X射線多晶體衍射的應(yīng)用實(shí)例12.1 冶金和機(jī)械工業(yè)12.2 地球和采礦工業(yè)12.3 生物和醫(yī)藥工業(yè)12.4 能源12.5 陶瓷和建材工業(yè)12.6 功能材料、玻璃12.7 復(fù)合材料物相鑒定12.8 粉末晶體結(jié)構(gòu)分析12.9 晶粒度及晶格應(yīng)變的測(cè)定參考文獻(xiàn)

章節(jié)摘錄

插圖：這是國(guó)際晶體學(xué)聯(lián)合會(huì)下屬的粉末衍射專業(yè)委員會(huì)在1990年組織了一個(gè)12人的委員會(huì)，對(duì)此前世界上發(fā)表、使用的各種用于粉末衍射的計(jì)算機(jī)軟件進(jìn)行的匯總、分類，并發(fā)表于Journal 0f Applied Crystallography（1991，24：369-402）。其中共收集了280個(gè)以上的程序，將其歸并為21個(gè)大類，包括：晶體學(xué)數(shù)據(jù)庫(kù)；分析軟件包；儀器控制和數(shù)據(jù)處理；面間距d的產(chǎn)生；d-1的圖示；定性物相鑒定；自動(dòng)衍射指數(shù)標(biāo)定；結(jié)構(gòu)精修／衍射指數(shù)標(biāo)定；結(jié)構(gòu)精修／誤差分析；度量分析；圖譜產(chǎn)生；峰形擬合——分解法；⑩峰形擬合——全譜擬合；反積卷；晶粒度／應(yīng)變／結(jié)構(gòu)；⑩Rietvela結(jié)構(gòu)精修；⑩物相定量分析；粉末法測(cè)定結(jié)構(gòu)；結(jié)構(gòu)顯示；小角散射；其他程序等。該文獻(xiàn)對(duì)每一程序列出了它的代碼、編寫所用的語言、所用計(jì)算機(jī)的類型（是較大型的機(jī)器還是個(gè)人計(jì)算機(jī)）、取得程序的條件（要不要錢？）、程序的作者和聯(lián)系地址等信息。

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《粉末多晶X射線衍射技術(shù)原理及應(yīng)用》：青年科技創(chuàng)新人才學(xué)術(shù)文庫(kù)

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