近代光學(xué)測試技術(shù)

內(nèi)容概要

　　隨著近代科學(xué)技術(shù)和工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，傳統(tǒng)的光學(xué)機(jī)械測試方法已日益不適應(yīng)近代工業(yè)和科學(xué)技術(shù)提出的高精度。高效率與自動(dòng)化的測試要求。在精密測試領(lǐng)域中，必須注入新的活力，激光和計(jì)算機(jī)技術(shù)的出現(xiàn)和二者的結(jié)合為新的測試技術(shù)開辟了一條新的途徑。為促進(jìn)精密測試技術(shù)和光學(xué)工業(yè)本身的現(xiàn)代化和便于各學(xué)科之間的相互促進(jìn)和滲透，我們根據(jù)科研與教學(xué)工作的需要，從近代光學(xué)的角度，系統(tǒng)的編寫了這《近代光學(xué)測試技術(shù)》。

書籍目錄

前章　 光學(xué)測試技術(shù)綜述編著：楊國光§0-1　領(lǐng)域與特點(diǎn)一、研究領(lǐng)域二、技術(shù)特色§0-2　技術(shù)現(xiàn)狀§0-3　方法的選擇§0-4　技術(shù)發(fā)展的方向本章參考文獻(xiàn)第一章　光干涉技術(shù)　編著：卓永模§1-1　光干涉的基礎(chǔ)知識一、相干光場的性質(zhì)　　二、兩個(gè)相干波的疊加　 三、部分相干理論　四、干涉儀常用的光源及激光光源　五、干涉條紋的間隔和形狀§l－2　近代干涉測試技術(shù)　一、泰曼一格林干涉儀測試　二、典型的雙光束干涉圖及其分析　三、任意波前的干涉圖分析　四、共路干涉儀測試§1－3　多通道干涉儀測試　 一、雙通道干涉儀　二、多通道干涉儀§1—4　波面位相的實(shí)時(shí)檢測技術(shù)　一、條紋掃描波面位相實(shí)時(shí)檢測　　二、共路錯(cuò)位掃描干涉儀　三、實(shí)時(shí)橫向錯(cuò)位干涉儀　四、外差干涉位相檢測　五、鎖相干涉技術(shù)　六、雙波長條紋掃描干涉儀　七、空間調(diào)制的波面位相檢測§1-5　長度(間隔、高度、振幅)的激光干涉　一、激光干涉測長的工作原理及特點(diǎn)　二、激光干涉測長應(yīng)解決的幾個(gè)問題　三、激光干涉測長的應(yīng)用……

媒體關(guān)注與評論

　　隨著近代科學(xué)技術(shù)和工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，傳統(tǒng)的光學(xué)機(jī)械測試方法已日益不適應(yīng)近代工業(yè)和科學(xué)技術(shù)提出的高精度。高效率與自動(dòng)化的測試要求。在精密測試領(lǐng)域中，必須注入新的活力，激光和計(jì)算機(jī)技術(shù)的出現(xiàn)和二者的結(jié)合為新的測試技術(shù)開辟了一條新的途徑。為促進(jìn)　　精密測試技術(shù)和光學(xué)工業(yè)本身的現(xiàn)代化和便于各學(xué)科之間的相互促進(jìn)和滲透，我們根據(jù)科研與教學(xué)工作的需要，從近代光學(xué)的角度，系統(tǒng)的編寫了這本書?！　±霉鈱W(xué)進(jìn)行精密測試，一直是測試技術(shù)領(lǐng)域中的主要方法。由于光學(xué)測試方法的非接觸　　性，高靈敏度性，高精度性以及光學(xué)圖像的二維計(jì)量性，在應(yīng)用上十分有意義。但近代對測試技術(shù)提出了三維性，相關(guān)性及實(shí)時(shí)性，要求更高的靈敏度和精度。傳統(tǒng)的普通光學(xué)方法已不能適應(yīng)。為此，70年代以來國內(nèi)外主要發(fā)展以激光為中心的精密測試技術(shù)；特別是激光與計(jì)算機(jī)結(jié)合的近代光學(xué)測試技術(shù)，這種技術(shù)是以近代光學(xué)為基礎(chǔ)來實(shí)現(xiàn)精密計(jì)量與測試。近代光學(xué)測試技術(shù)的任務(wù)與手段主要是：　　(1)靜態(tài)的三維測量這主要是靜態(tài)表面(包括粗糙表面、高溫表面、柔性表面、液面)的三維形狀與變形測量，這方面發(fā)展的新方法主要是：全息法、莫爾法、散斑法、光掃描法、光衍射法以及實(shí)時(shí)干涉法等。　　(2)動(dòng)態(tài)的參數(shù)測量　這主要指時(shí)間變動(dòng)下對物體的測量。例如，測長、測振、測速、測微小變形等。發(fā)展的新方法有光學(xué)零差法、外差法以及激光多普勒法、光導(dǎo)纖維法等?！　?3)實(shí)時(shí)測量 這主要指空間與時(shí)間都變動(dòng)下的測量，新發(fā)展的方法是各種光電實(shí)時(shí)測試技術(shù)，例如，光掃描法、信息處理法、數(shù)字圖像測試法等?！　?4)相關(guān)測試從測試比較中找到物體相同點(diǎn)與不同點(diǎn)。這方面主要發(fā)展傅里葉頻譜分析，激光光譜技術(shù)等方法?！　”緯鴦t以上述內(nèi)容為中心，分十章以專題形式從十個(gè)方面來綜述國內(nèi)外自70年代以來新　　發(fā)展的各種光學(xué)測試新技術(shù)。為使篇幅不致太多，本書有選擇的略去7一些方面，例如，高速攝影測試技術(shù)，散射測試技術(shù)，偏振、光度、色度測試技術(shù)等。而主要介紹發(fā)展比較成熟、技術(shù)比較先進(jìn)而又有一定應(yīng)用意義的方法?！　”緯饕菫楣鈱W(xué)、光學(xué)儀器、精密儀器儀表專業(yè)的大專和本科學(xué)生、研究生編寫的一本　　專業(yè)參考書。為便于其他專業(yè)的技術(shù)人員學(xué)習(xí)閱讀，在每章中都有適當(dāng)?shù)娜腴T基礎(chǔ)介紹，特別　　是第一章與第二章。另外，每章附有參考書目與文獻(xiàn)，便于讀者進(jìn)一步深入，從中找到有價(jià)值的材料?！　”緯幹唠m都是直接從事這方面技術(shù)工作的專業(yè)人員，但由于本書在技術(shù)上較新，涉及　　面又廣，經(jīng)驗(yàn)不足，因此在取材和編寫上肯定有不妥和錯(cuò)誤之處，望讀者及時(shí)指正。　　編著者　　1983年12月　　于浙江大學(xué)

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