材料現(xiàn)代研究方法實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書

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　　《普通高等教育“十二五”規(guī)劃教材：材料現(xiàn)代研究方法實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書》是大學(xué)本科材料成型及控制工程專業(yè)公共基礎(chǔ)課“材料現(xiàn)代研究方法”的實(shí)驗(yàn)教學(xué)用書，旨在使學(xué)生了解和掌握與科研工作密切相關(guān)的重要分析測試儀器原理、試樣制作、分析特性以及數(shù)據(jù)解讀等知識(shí)?！　　镀胀ǜ叩冉逃笆濉币?guī)劃教材：材料現(xiàn)代研究方法實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書》針對(duì)X射線衍射儀、掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡等材料科學(xué)研究最重要的分析測試儀器，從儀器的基本原理人手，側(cè)重介紹儀器的分析特性與制樣等實(shí)用知識(shí)與技能。每章安排的分析實(shí)例大多為作者在實(shí)際科研工作中的珍貴素材，可使學(xué)生更好地熟悉本專業(yè)的學(xué)科方向與研究特點(diǎn)，掌握正確的研究方法。全書共設(shè)置了6個(gè)實(shí)驗(yàn)，以實(shí)現(xiàn)密切配合課堂教學(xué)，達(dá)到理論聯(lián)系實(shí)際、增強(qiáng)動(dòng)手能力的教學(xué)目的?！　　镀胀ǜ叩冉逃笆濉币?guī)劃教材：材料現(xiàn)代研究方法實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書》可作為本科及研究生的教學(xué)用書，也可供材料科技人員在從事科學(xué)研究及技術(shù)開發(fā)工作以及撰寫論文時(shí)使用和參考。

書籍目錄

第1章X射線衍射分析技術(shù) 1.1X射線的物理學(xué)本質(zhì) 1.1.1X射線的產(chǎn)生 1.1.2X射線的性質(zhì) 1.1.3X射線譜 1.1.4X射線與物質(zhì)的相互作用 1.2X射線的衍射原理 1.2.1倒易點(diǎn)陣簡介 1.2.2X射線的衍射方向 1.2.3X射線衍射束的強(qiáng)度 1.3X射線衍射方法 1.3.1X射線衍射儀的結(jié)構(gòu) 1.3.2X射線衍射儀的測量 1.4X射線衍射物相定性分析 1.4.1分析原理 1.4.2衍射卡片 1.4.3卡片索引及檢索方法 1.4.4物相定性分析過程 1.4.5計(jì)算機(jī)物相檢索 1.5X射線衍射物相定量分析 1.5.1定量分析原理 1.5.2定量分柝方法 1.6宏觀應(yīng)力的測定 1.6.1宏觀應(yīng)力及X射線測量宏觀應(yīng)力原理 1.6.2宏觀應(yīng)力測定的基本原理 1.6.3宏觀應(yīng)力測定的測試方法 實(shí)驗(yàn)1X射線衍射多物相分析 實(shí)驗(yàn)?zāi)康募耙?實(shí)驗(yàn)條件 實(shí)驗(yàn)步驟 思考題 實(shí)驗(yàn)報(bào)告 參考文獻(xiàn) …… 第2章透射電子顯微分析技術(shù) 第3章掃描電子顯微鏡與電子探針分析技術(shù)

章節(jié)摘錄

版權(quán)頁：   插圖：   6透射電子顯微鏡樣品的制備方法 由于透射電子顯微鏡的出現(xiàn)，材料顯微分析技術(shù)得到了進(jìn)一步的發(fā)展。然而這種使用電子束作為照明源的儀器受電子束穿透能力較低的影響，樣品必須非常薄才能被電子束穿透，這就要求樣品多為厚度在10～2001101之間的薄膜。101樣品制備是研究中至關(guān)重要的一環(huán)，制備出好的薄膜樣品才能得到好的結(jié)果。傳統(tǒng)的常規(guī)透射電子顯微鏡樣品制備方法有很多，例如電解雙噴、化學(xué)減薄、解理、粉碎研磨、超簿切片、聚焦離子束、機(jī)械減薄和離子減薄，以上方法制備的樣品為材料本體，稱為直接樣品。表面復(fù)型技術(shù)的發(fā)展使得透射電子顯微鏡可用于觀察非薄膜金屬及其他材料的顯微組織，由于這種方法是將材料表面的浮凸進(jìn)行復(fù)制，將復(fù)制出的薄膜作為觀察對(duì)象，故這種樣品稱為間接樣品。樣品的制備方法有很多，應(yīng)該根據(jù)材料的類型和所要獲取的信息進(jìn)行有效的選擇。本節(jié)將分兩類著重介紹應(yīng)用較廣的表面復(fù)型、電解雙噴和離子減薄等樣品制備方法。 首先，無論哪種樣品制備方法，對(duì)于在透射電子顯微鏡中研究的樣品具體提出以下幾點(diǎn)要求： （1）在進(jìn)行觀察時(shí)，樣品被置于載樣網(wǎng)網(wǎng)上，锏網(wǎng)的直徑約為2～3^11111，所觀察的樣品最大尺度不得超過載物锎網(wǎng)的直徑，而且樣品的厚度必須薄到電子束可以穿透的程度，具體視加速電丨玉和樣品材料而異，一般在加速電壓為1001^^的情況下，樣品厚度不能超過1000～2000A； （2）由于鏡筒中為真空狀態(tài)，樣品中如含有水分、易揮發(fā)及腐燭性等物質(zhì)，在制備后需要加以處理，另外樣品需要一定的強(qiáng)度和穩(wěn)定性，不至于在電子束作用下發(fā)生變化； （3）樣品需要非常潔凈，以保證圖片質(zhì)量和研究效果，樣品不能帶荷電。 下面來具體介紹透射電子顯微鏡樣品的制備方法。 直接樣品的制備 2.6.1.1一般樣品的制備 目前直接樣品的制備方法有很多，但是在一般情況下，總體來說制備過程分以下幾步： （1）初減薄——制備厚度約為100～200μm的薄片； （2）從薄片上切取3mm的薄片； （3）從圓片的一側(cè)或者兩側(cè)將圓片中心區(qū)域剪薄至數(shù)微米； （4）終減簿。

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《普通高等教育"十二五"規(guī)劃教材:材料現(xiàn)代研究方法實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書》由冶金工業(yè)出版社出版。

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