全腦測(cè)試300題(3-4歲下)

出版時(shí)間:2012-1  出版社:北京科技  作者:沃希恩  頁(yè)數(shù):96  譯者:燕子  
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內(nèi)容概要

  《全腦測(cè)試300題(3-4歲)(下)》是一套根據(jù)孩子各年齡段的智力特點(diǎn)編著的全面開發(fā)孩子潛能的書,內(nèi)容涵蓋數(shù)學(xué)、語(yǔ)言、邏輯、思考、繪畫、常識(shí)、創(chuàng)意等各個(gè)方面,通過各種不同類型的題目,全面地開發(fā)孩子的潛能,讓他們的各項(xiàng)潛能平衡發(fā)展,讓他們健康快樂地成長(zhǎng)!

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