X射線熒光光譜的基本參數(shù)法

前言

X射線熒光光譜分析是一種應(yīng)用非常廣泛的化學成分分析手段，始于20世紀50年代初，至今在分析理論、方法、儀器和應(yīng)用等方面都取得了長足的發(fā)展，尤其是基本參數(shù)法進入實用階段后，X射線熒光光譜定量分析依賴相似標樣的情況得到改善，使X射線熒光光譜分析不僅成為化學分析實驗室的常用方法，而且在現(xiàn)場分析、在線分析以及非破壞分析上發(fā)揮著重要的作用，是其他方法無法替代的。基本參數(shù)法的理論基礎(chǔ)是譜線強度和元素濃度之間的理論關(guān)系，也就是說，根據(jù)測量的譜線強度和測量條件，就可以計算出待測元素的濃度。所以，基本參數(shù)法從理論上說，是不需要相似標樣的，只需要用樣品對儀器因子進行校正，這樣的樣品可以是純元素樣品，也可以是多元樣品。早期的基本參數(shù)法因為計算機的速度不夠快，理論強度計算模型不完善，X射線管原級譜強度分布的測定或計算不夠準確，以及用于理論強度計算的一些基本參數(shù)誤差較大等原因，造成分析結(jié)果不夠準確，因此產(chǎn)生了理論影響系數(shù)法。

內(nèi)容概要

　　《X射線熒光光譜的基本參數(shù)法》是X射線熒光光譜分析領(lǐng)域?qū)ｉT講述基本參數(shù)法的第一本書。書中，作者結(jié)合自己的研究成果和實踐經(jīng)驗，系統(tǒng)而詳細地介紹了X射線熒光光譜分析中的基本參數(shù)法的基本原理、方法中用到的各種基本參數(shù)、理論熒光強度計算、散射對理論熒光強度的影響、多層膜樣品中熒光強度計算的問題、基本參數(shù)法的實現(xiàn)和應(yīng)用實例，書末還列出了重要的基本參數(shù)?！　”緯晒氖耎射線熒光光譜研究與實際分析的科研和技術(shù)人員閱讀，也可作為X射線熒光光譜分析或相關(guān)專業(yè)教師和研究生的參考讀物。

書籍目錄

第1章 X射線熒光光譜分析概述1.1 引言1.2 X射線光譜1.2.1 X射線的定義1.2.2 X射線的性質(zhì)1.2.3 X射線光譜的產(chǎn)生1.3 X射線與物質(zhì)的相互作用1.3.1 吸收系數(shù)1.3.2 衰減系數(shù)1.3.3 吸收截面1.3.4 吸收系數(shù)和波長的關(guān)系1.3.5 散射1.4 布拉格定律1.5 俄歇效應(yīng)和熒光產(chǎn)額1.6 X射線熒光光譜儀1.7 X射線熒光光譜定性分析1.8 X射線熒光光譜定量分析1.8.1 定量分析概述1.8.2 基體效應(yīng)1.8.3 元素間吸收一增強效應(yīng)1.8.4 校正曲線法1.8.5 內(nèi)標法1.8.6 標準加八法和標準稀釋法1.8.7 薄樣法1.8.8 吸收增強效應(yīng)的數(shù)學校正1.9 計數(shù)統(tǒng)計學與測量時間1.9.1 總計數(shù)的標準偏差1.9.2 計數(shù)率的標準偏差1.9.3 計數(shù)時間的選擇1.10 靈敏度、檢出限和測量限1.10.1 靈敏度1.10.2 檢出限和測量限1.11 X射線熒光光譜半定量分析1.11.1 基于全程掃描的半定量分析軟件1.11.2 基于測量峰位及背景點強度的半定量分析軟件1.11.3 聚酯膜（My1arFi1m）中Ca和P雜質(zhì)的校正1.11.4 支攆膜和氨氣介質(zhì)的吸收校正1.11.5 實際試樣半定量分析結(jié)果舉例1.12不確定度評定1.12.1 不確定度的定義1.12.2 誤差1.12.3 光譜分析中的常見分布1.12.4 置信水平1.12.5 標準不確定度的A類評定1.12.6 標準不確定度的B類評定1.12.7 擴展不確定度1.12.8 測量不確定度的報告1.12.9 X射線熒光光譜定量分析中標準不確定度的估計1.13樣品制備1.13.1 概述1.13.2 熔融片與其他制樣比較的優(yōu)點1.13.3 熔劑1.13.4 樣品1.13.5 樣品的酸度1.13.6 熔片中氧化物的溶解度1.13.7 熔融工具和材料1.13.8 熔融參考文獻第2章 基本參數(shù)法中的基本參數(shù)2.1 質(zhì)量衰減系數(shù)2.1.1 質(zhì)量衰減系數(shù)的文獻2.1.2 質(zhì)量衰減系數(shù)的計算2.1.3 質(zhì)量衰減系數(shù)算法的比較2.2 熒光產(chǎn)額2.2.1 熒光產(chǎn)額和俄歇產(chǎn)額2.2.2 熒光產(chǎn)額的獲得2.2.3 熒光產(chǎn)額的不確定度估計2.3 Coster－Kronig產(chǎn)額2.4 譜線分數(shù)2.5 吸收限躍遷因子2.6 激發(fā)因子參考文獻第3章 理論強度計算和基本參數(shù)優(yōu)化3.1 引言3.2 厚試樣理論強度的計算3.2.1 一次（初級）熒光強度的計算3.2.2 二次（次級）熒光強度的計算3.2.3 三次熒光強度的計算3.3 光譜儀幾何設(shè)計對理論計算相對強度的影響3.3.1 光譜儀幾何因子對計算相對強度的影響3.3.2 出射角的確定3.3.3 入射角的確定3.3.4 測定幾何因子可靠性驗證3.4 X射線管原級譜強度分布對理論計算熒光強度的影響3.5 理論強度計算中的μ+r模式3.5.1 μ+r模式的定義和理論依據(jù)3.5.2 μ+r模式的實驗檢驗3.6 基本參數(shù)的優(yōu)化3.6.1 質(zhì)量衰減系數(shù)的優(yōu)化3.6.2 激發(fā)因子的優(yōu)化參考文獻第4章 散射效應(yīng)增強熒光強度基本參數(shù)計算4.1 引言4.2 散射效應(yīng)4.3 散射系數(shù)在總質(zhì)量吸收系數(shù)中的比例4.4 影響熒光強度的散射效應(yīng)4.5 散射效應(yīng)增強熒光強度理論計算公式4.5.1 入射X射線原級譜被散射后對熒光強度的增強效應(yīng)4.5.2 一次熒光被散射進探測方向的強度4.6 角度關(guān)系4.7 散射微分截面4.7.1 相干散射截面4.7.2 非相干散射截面4.7.3 F（χ，Z）和s（χ，Z）的計算方法4.8 計算程序4.9 實驗……第5章 多層膜樣品X射線熒光線強度計算中的問題第6章 基本參數(shù)法的實現(xiàn)第7章 基本參數(shù)法的應(yīng)用附表

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