出版時(shí)間:2011-12 出版社:江西美術(shù)出版社 作者:王泰琪
內(nèi)容概要
本書(shū)敘述的是科技檢測(cè)在古董收藏中的應(yīng)用和實(shí)例剖析,從另外一個(gè)角度談?wù)勅绾舞b別古董真?zhèn)蔚男路椒?,也許能為大家?guī)?lái)新的興趣。
本書(shū)以材料元素的數(shù)據(jù)進(jìn)行朝代比對(duì),以材料元素的數(shù)據(jù)進(jìn)行材質(zhì)比對(duì),利用無(wú)損檢測(cè)和微創(chuàng)檢測(cè),著重介紹科技檢測(cè)手段之一的“x熒光能譜分析法”,以古陶瓷為主要實(shí)例,將它在應(yīng)用中的實(shí)踐進(jìn)行介紹和釋疑。
本書(shū)分為三大部分:
一部分為文字“論述”即第一章。
一部分為“應(yīng)用和實(shí)例剖析——釉面放大鑒賞圖”即第二章。
一部分為“應(yīng)用和實(shí)例剖析——機(jī)測(cè)器物鑒賞圖”即第三章。
愿科技檢測(cè)在文物考古、古董和古陶瓷收藏中的應(yīng)用和規(guī)范,作為古董鑒定的輔助手段與真才實(shí)學(xué)的經(jīng)驗(yàn)科學(xué)相結(jié)合,促進(jìn)當(dāng)今古玩收藏?zé)岬慕】蛋l(fā)展,人機(jī)合鑒,和諧探索,亦為幸事。
書(shū)籍目錄
前言
第一章 論述
1.了解“x射線(xiàn)熒光能譜分析”法
2.如何認(rèn)識(shí)對(duì)古陶瓷進(jìn)行科學(xué)測(cè)試
3.目前古陶瓷最常用的科學(xué)測(cè)試項(xiàng)目有哪些
4.古陶瓷胎、釉、彩的化學(xué)元素分析法
5.如何對(duì)瓷釉、胎進(jìn)行非破壞性分析或微創(chuàng)檢測(cè)分析
6.利用“熱釋光測(cè)定年代“根據(jù)什么原理
7.熱釋光斷代技術(shù)對(duì)送檢樣品的要求
8.熱釋光斷代技術(shù)是否有可能被用來(lái)造假
9.科學(xué)工作者如何識(shí)別利用熱釋光斷代技術(shù)進(jìn)行造假
10.x射線(xiàn)熒光能譜分析檢測(cè)根據(jù)什么原理
11.x射線(xiàn)熒光能譜分析對(duì)送檢樣品有什么要求
12.x射線(xiàn)熒光能譜分析法的主要優(yōu)點(diǎn)
13 x射線(xiàn)熒光能譜分析法的主要缺點(diǎn)
……
第二章 科技檢測(cè)在古董收藏中的應(yīng)用和實(shí)例剖析——釉面放大鑒賞圖
第三章 科技檢測(cè)在古董收藏中的應(yīng)用和實(shí)例剖析——機(jī)測(cè)器物鑒賞
中文版的跋
我們的趣照
后記
章節(jié)摘錄
版權(quán)頁(yè): 插圖: 11.科技檢測(cè)古董藝術(shù)品對(duì)送檢樣品有什么要求 隨著科學(xué)的進(jìn)步,能量色散x射線(xiàn)熒光分析儀即“能譜儀”已廣泛使用。另一種常用的波長(zhǎng)色散x射踐熒光分析儀即“波譜儀”,過(guò)去老一代的波譜儀已較少使用。但“波譜儀”也有它的優(yōu)點(diǎn)、尤其對(duì)輕元素能精確定量,對(duì)高仿品的數(shù)據(jù)相對(duì)敏感,尤以古瓷釉中氧化鎂、納、硅的多重比例反映更精確,缺點(diǎn)是多種元素同時(shí)分析速度慢,數(shù)據(jù)參數(shù)、知識(shí)產(chǎn)權(quán)只掌握在少數(shù)專(zhuān)家手中,隨著識(shí)假要求越來(lái)越高,隨著“波譜儀”的儀器革命性更新?lián)Q代,未來(lái)替代“能譜儀”進(jìn)入古董藝術(shù)品檢測(cè)領(lǐng)域也會(huì)成為可能,但這一時(shí)段會(huì)相對(duì)很長(zhǎng)。 x射線(xiàn)熒光分析的主要特點(diǎn)是,可以直接用完整器測(cè)定表面的物質(zhì)成分或古瓷釉面成分,它的主要優(yōu)點(diǎn)是方便、快捷,對(duì)待測(cè)的送檢樣品沒(méi)有特別的要求,只要表面擦干凈,器物大小尺寸靶室能放得下即可,檢測(cè)古瓷的胎則需磨除釉、化妝土及反應(yīng)層的部分 11. The requirements of scientific inspection of antiques for the submitted sample With the progress of science,energy dispersive x-ray fluorescence analyzer, that is,"EDS" has been widely used. Another widely used wavelength dispersive x-ray fluorescence analyzer,that is,the"spectrometer",of which the older generation spectrometer has been used less.But the"spectrometer"also has its advantages,especially for light elements that can be accurately quantified.It is relatively sensitive to the data of high forgeries,especially in the ancient porcelain glaze the multiple proportions of MgO,Na2O, Si02 are reflected more accurately.Its disadvantage is that the speed of multiple elements analyzed simultaneously is slow,and data parameters,intellectual property are only grasped by a few experts.With the increasingly high demand for identification and the revolutionary replacement of "spectrometer",it becomes possible that in future "spectrometer"will replace "EDS" into the antique art work inspection area,but it has a long way to go. The main feature of x-ray Fluorescence analysis is the direct use of entire ceramics for measuring surface material composition or porcelain glaze composition.Its main advantages are convenient,fast and without special requirements for submitted samples,as long as the surface is clean,ware size is proper for putting down in target chamber.Inspecting the body of ancient porcelain,the glaze,the mask clay,and the reaction layer should be worn out.
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