互換性與測量技術(shù)

內(nèi)容概要

　　《中國機械工程學(xué)科教程配套系列教材：互換性與測量技術(shù)》是為了適應(yīng)現(xiàn)代生產(chǎn)和科學(xué)技術(shù)發(fā)展的需要，深入改革教學(xué)內(nèi)容而編寫的一本教材。全書以互換性原理為主線，以產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS）相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)，遵循內(nèi)容精選、加強應(yīng)用、注意更新、便于教學(xué)、便于自學(xué)的原則，系統(tǒng)地闡述互換性與測量技術(shù)的基本內(nèi)容。　　《中國機械工程學(xué)科教程配套系列教材：互換性與測量技術(shù)》可作為高等學(xué)校機械類各專業(yè)的教材，并可供工程技術(shù)人員參考。

書籍目錄

第1章互換性概論 1.1互換性 1.2標(biāo)準(zhǔn)化 1.2.1標(biāo)準(zhǔn) 1.2.2標(biāo)準(zhǔn)化 1.2.3產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范 1.3公差與配合的基本概念 1.3.1有關(guān)尺寸的術(shù)語及其定義 1.3.2有關(guān)偏差與公差的術(shù)語及其定義 1.3.3有關(guān)配合的術(shù)語及其定義 1.3.4有關(guān)基準(zhǔn)制配合的術(shù)語及其定義 習(xí)題 第2章孔、軸的公差與配合 2.1概述 2.2標(biāo)準(zhǔn)公差系列 2.2.1公差單位 2.2.2公差等級 2.3基本偏差系列 2.3.1基本偏差系列及其代號 2.3.2軸的基本偏差數(shù)值 2.3.3孔的基本偏差數(shù)值 2.3.4計算舉例 2.4常用尺寸段的公差帶與配合 2.4.1一般、常用和優(yōu)先的公差帶與配合 2.4.2公差帶與配合及在圖樣上的標(biāo)注 2.4.3一般公差 2.5公差與配合的選擇 2.5.1公差與配合的選用方法 2.5.2基準(zhǔn)配合制度的選擇 2.5.3公差等級的選擇 2.5.4配合的選擇 2.5.5公差帶與配合選擇實例 習(xí)題 第3章幾何公差 3.1基本概念 3.1.1幾何要素及其分類 3.1.2幾何公差的幾何特征及其符號 3.1.3幾何公差帶的概念 3.1.4幾何公差的標(biāo)注方法 3.2形狀誤差與形狀公差 3.2.1形狀誤差及其評定 3.2.2形狀公差及公差帶的定義、標(biāo)注和解釋 3.2.3輪廓度公差及公差帶的定義、標(biāo)注和解釋 3.3基準(zhǔn)和基準(zhǔn)體系 3.3.1定義 3.3.2基準(zhǔn)的建立 3.3.3基準(zhǔn)的體現(xiàn) 3.3.4綜合示例 3.4定向誤差與方向公差 3.4.1定向誤差及其評定 3.4.2方向公差及公差帶的定義、標(biāo)注和解釋 3.5位置誤差與位置公差 3.5.1定位誤差及其評定 3.5.2位置公差及公差帶的定義、標(biāo)注和解釋 3.5.3復(fù)合位置度公差注法 3.6跳動誤差與跳動公差 3.6.1跳動誤差及其評定 3.6.2跳動公差 3.7公差原則 3.7.1概述 3.7.2獨立原則 3.7.3包容要求 3.7.4最大實體要求 3.7.5最小實體要求 3.7.6可逆要求 3.7.7公差原則的比較和總結(jié) 3.8零件的幾何精度設(shè)計 3.8.1幾何精度設(shè)計的方法 3.8.2幾何公差項目的選擇 3.8.3幾何公差基準(zhǔn)的選擇 3.8.4公差原則的選擇 3.8.5幾何公差等級（或公差值）的選擇 3.9功能量規(guī)設(shè)計 3.9.1概述 3.9.2功能量規(guī)設(shè)計 3.9.3功能量規(guī)的設(shè)計示例 習(xí)題 第4章表面結(jié)構(gòu) 4.1基本概念 4.1.1表面粗糙度輪廓的界定 4.1.2表面粗糙度輪廓對零件使用性能的影響 4.2表面粗糙度的評定 4.2.1基本術(shù)語（GB/T3505-2009） 4.2.2表面粗糙度輪廓的評定參數(shù)（GB/T3050-2009） 4.2.3表面粗糙度的參數(shù)值（GB/T1031-2009） 4.2.4表面結(jié)構(gòu)的符號及標(biāo)注 4.3表面結(jié)構(gòu)參數(shù)和參數(shù)值的選用 4.3.1表面粗糙度輪廓參數(shù)的選擇 4.3.2表面粗糙度輪廓參數(shù)值的選擇 4.4檢測表面結(jié)構(gòu)的方法 習(xí)題 第5章測量技術(shù)基礎(chǔ) 5.1測量技術(shù)概述 5.2長度基準(zhǔn)與尺寸傳遞 5.3測量器具和測量方法 5.4測量誤差及數(shù)據(jù)處理 5.4.1測量誤差的定義 5.4.2測量誤差與測量精度 5.4.3測量誤差的來源 5.4.4測量誤差的數(shù)據(jù)處理 5.5光滑極限量規(guī) 5.5.1光滑極限量規(guī)的基本概念 5.5.2泰勒原則及光滑極限量規(guī)公差帶 5.5.3量規(guī)形式的選擇 5.5.4量規(guī)的技術(shù)要求 習(xí)題 第6章典型零件的公差與配合 6.1滾動軸承的公差與配合 6.1.1滾動軸承的分類及公差特點 6.1.2滾動軸承配合件公差及選用 6.2螺紋結(jié)合的公差與配合 6.2.1螺紋種類及標(biāo)準(zhǔn) 6.2.2普通螺紋結(jié)合的公差與配合 6.2.3梯形螺紋結(jié)合的公差與配合 6.3鍵和花鍵連接的公差與配合 6.3.1普通平鍵連接的公差、配合 6.3.2矩形花鍵連接的公差、配合 6.4圓錐結(jié)合的公差與配合 6.4.1概述 6.4.2圓錐公差 6.4.3圓錐配合 6.4.4圓錐的公差注法 6.5漸開線圓柱齒輪公差 6.5.1概述 6.5.2齒輪誤差項目及其檢測 6.5.3漸開線圓柱齒輪精度標(biāo)準(zhǔn)及其應(yīng)用 習(xí)題 第7章幾何量測量 7.1幾何參數(shù)誤差的測量 7.1.1幾何參數(shù)誤差的測量一般規(guī)定 7.1.2幾何參數(shù)的檢測原則 7.1.3幾何參數(shù)誤差的測量方法 7.2普通螺紋的檢測 7.3鍵、花鍵測 7.3.1普通平鍵鍵槽的檢測 7.3.2矩形花鍵的檢測 7.4齒輪測量 習(xí)題 第8章質(zhì)量工程與互換性設(shè)計 8.1質(zhì)量工程概述 8.2質(zhì)量功能展開 8.2.1質(zhì)量屋 8.2.2QFD展開 8.2.3質(zhì)量屋與并行工程結(jié)合運用 8.3容差與公差設(shè)計 8.4尺寸鏈 8.4.1概述 8.4.2尺寸鏈的建立與分析 8.4.3尺寸鏈的計算 習(xí)題 參考文獻

章節(jié)摘錄

版權(quán)頁：   插圖：   （1）刻線間距c：測量器具標(biāo)尺或刻度盤上兩相鄰刻線中心線間的距離（或圓周弧長）。為了便于讀數(shù)及估計一個刻線間距內(nèi)的小數(shù)部分，刻線間距不宜太小，一般將刻線間距做成0.75～2.5mm的等距離刻線。 （2）分度值i：亦稱刻度值，測量器具的標(biāo)尺上每一刻線間距所代表的量值。常用分度值有0.05mm、0.02mm、0.01mm、0.001mm等。有一些測量器具（如數(shù)字式量儀）沒有刻度尺，就不稱分度值而稱分辨率。分辨率是指計量器具指示裝置所能顯示的最末一位數(shù)所代表的量值。如數(shù)顯千分尺的分辨率為1μm。 （3）示值范圍：由測量器具所顯示或指示的最低值到最高值的范圍。機械式比較儀的示值范圍為—0.1～+0.1mm（或±0.1mm）。 （4）測量范圍：在允許不確定度內(nèi)，測量器具所能測量的被測量值的最大值到最小值的范圍。機械式比較儀的測量范圍為0～180mm。 （5）靈敏度s：測量器具反映被測幾何量微小變化的能力。對一般長度量儀，靈敏度又稱放大比K（放大倍數(shù)），它等于刻線間距c與分度值i之比，即S=K=c／i。當(dāng)c一定時，放大比K愈大，分度值i愈小，可以獲得更精確的讀數(shù)。 （6）測量力：在接觸式測量過程中，測量器具的測頭與被測零件之間的接觸力。測量力過大會引起零件彈性變形，測量力太小則會影響接觸的可靠性。因此，多數(shù)量儀都有限制測量力的穩(wěn)定機構(gòu)。 （7）示值誤差：測量器具上的示值與被測量的真值的代數(shù)差。是由器具的調(diào)整誤差引起的，示值誤差越小，則測量器具的精度就越高。 （8）修正值：為了消除和減少系統(tǒng)誤差，用代數(shù)法加到測量結(jié)果上的數(shù)值。其大小與示值誤差的絕對值相等，而符號相反。 （9）重復(fù)精度：在相同的測量條件下，對同一被測參數(shù)進行多次重復(fù)測量時，各測量結(jié)果之間的一致性。 （10）不確定度：測量器具在規(guī)定條件下測量時，由于測量誤差的存在，被測量值不能肯定的程度，直接反映測量結(jié)果的可信度。 3.測量方法分類 測量方法可以從多個角度進行各種不同的分類。 （1）按所測得的值中是否為要求被測量的量值，可分為直接測量和間接測量兩種。 ①直接測量：從測量器具的讀數(shù)裝置上直接得到被測量的數(shù)值或?qū)?biāo)準(zhǔn)值的偏差的測量方法。如用游標(biāo)卡尺、外徑千分尺測量軸徑時，軸徑的尺寸就等于測量器具標(biāo)尺上的讀數(shù)值。

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