SOC測試

內(nèi)容概要

本書系統(tǒng)化介紹SOC測試方法與結(jié)構(gòu)，主要內(nèi)容包括SOC測試的原理和標(biāo)準(zhǔn)，掃描測試與內(nèi)建自測試，軟件自測試，測試壓縮，低功耗測試，延遲測試，模擬與混合電路測試，RF電路測試，SOC與NOC測試。
本書既可作為高等院校電子與信息、計算機(jī)科學(xué)與技術(shù)和電氣工程類高年級學(xué)生和研究生的專業(yè)課教材，也可作為從事集成電路設(shè)計、制造、測試、應(yīng)用、EDA和ATE專業(yè)人員的參考用書。

書籍目錄

第1章 簡介
 1.1 SOC測試的重要性
 1.2 SOC測試一些標(biāo)準(zhǔn)
 1.2.1 邊界掃描(IEEEll49.1)
 1.2.2 IEEE ll49.6
 1.2.3 模擬與混合信號電路邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)IEEE Pll49.4
 1.2.4 IEEE Pl500
 1.2.5 IEEE Pl687
 參考文獻(xiàn)
第2章 掃描測試與內(nèi)建自測試
 2.1 基本的掃描設(shè)計結(jié)構(gòu)
 2.1.1 基于多路選擇器一D觸發(fā)器的掃描設(shè)計
 2.1.2 帶時鐘的掃描設(shè)計
 2.1.3 電子敏感掃描設(shè)計
 2.1.4 增強(qiáng)的掃描設(shè)計
 2.2 低功耗掃描設(shè)計結(jié)構(gòu)
 2.2.1 多相或多序低功耗掃描設(shè)計
 2.2.2 通帶寬度匹配的低功耗掃描設(shè)計
　2.3 實速掃描設(shè)計
　2.4 邏輯內(nèi)建自測試
 2.4.1 測試圖形生成電路
 2.4.2 測試響應(yīng)壓縮
 2.4.3 邏輯內(nèi)建自測試結(jié)構(gòu)
 2.4.4 低功耗BIST結(jié)構(gòu)
　2.5 實速邏輯BIS了
 2.5.1 單捕獲
　　……
第3章　SOC測試與NOC測試
第4章　測試壓縮
第5章　延遲測試
第6章　低功耗測試
第7章　模擬與混合信號測試
第8章　射頻電路測試
第9章　基本軟件的自測試
附錄

圖書封面

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