超大規(guī)模集成電路測試

前言

　　2001年7月間，電子工業(yè)出版社的領(lǐng)導(dǎo)同志邀請各高校十幾位通信領(lǐng)域方面的老師，商量引進國外教材問題。與會同志對出版社提出的計劃十分贊同，大家認(rèn)為，這對我國通信事業(yè)、特別是對高等院校通信學(xué)科的教學(xué)工作會很有好處。教材建設(shè)是高校教學(xué)建設(shè)的主要內(nèi)容之一。編寫、出版一本好的教材，意味著開設(shè)了一門好的課程，甚至可能預(yù)示著一個嶄新學(xué)科的誕生。20世紀(jì)40年代MIT林肯實驗室出版的一套28本雷達叢書，對近代電子學(xué)科、特別是對雷達技術(shù)的推動作用，就是一個很好的例子。我國領(lǐng)導(dǎo)部門對教材建設(shè)一直非常重視。20世紀(jì)80年代，在原教委教材編審委員會的領(lǐng)導(dǎo)下，匯集了高等院校幾百位富有教學(xué)經(jīng)驗的專家..

內(nèi)容概要

VLSI測試包括數(shù)字、存儲器和混合信號三類電路測試，本書系統(tǒng)地介紹了這三類電路的測試和可測試性設(shè)計。全書共分三個部分。第一部分是測試基礎(chǔ)，介紹了測試的基本概念、測試設(shè)備、測試經(jīng)濟學(xué)和故障模型。第二部分是測試方法，詳細論述了組合和時序電路的測試生成、存儲器測試、基于DSP和基于模型的模擬與混合信號測試、延遲測試和IDDQ測試等。第三部分是可測試性設(shè)計，包括掃描設(shè)計、BIST、邊界掃描測試、模擬測試總線標(biāo)準(zhǔn)和基于IP核的SOC測試。    本書可作為高等學(xué)校計算機、微電子、電子工程、無線電及自動控制、信號處理專業(yè)的高年級學(xué)生與研究生的教材和參考書，也可供從事上述領(lǐng)域工作的科研人員參考，特別適合于從事VLSI電路設(shè)計和測試的工程技術(shù)人員。

作者簡介

Michael L. Bushnell是美國Rutgers大學(xué)電子與計算機工程系的正教授和董事會研究會員。他于1975年在麻省理工學(xué)院獲得學(xué)士學(xué)位，并分別于1983年和1986年在卡內(nèi)基梅隆大學(xué)獲得碩士和博士學(xué)位。1983年他入選美國電子協(xié)會才能發(fā)展計劃（Faculty Development Program），并獲得

書籍目錄

第一部分    測試概論  第1章    引言    1.1    測試哲學(xué)    1.2    測試的作用    1.3    數(shù)字和模擬VLSI測試    1.4    VLSI技術(shù)的發(fā)展趨勢對測試的影響    1.5    本書范圍    1.6    習(xí)題  第2章    VLSI測試過程和測試設(shè)備    2.1    如何測試芯片      2.1.1    測試類型    2.2    自動測試設(shè)備      2.2.1    Advantest Model T6682測試儀      2.2.2    LTX Fusion ATE      2.2.3    多點測試    2.3    電氣參數(shù)測試    2.4    小結(jié)    2.5    習(xí)題  第3章    測試經(jīng)濟學(xué)和產(chǎn)品質(zhì)量    3.1    測試經(jīng)濟學(xué)      3.1.1    成本定義      3.1.2    生產(chǎn)      3.1.3    成本利潤分析      3.1.4    可測性設(shè)計的經(jīng)濟學(xué)      3.1.5    十倍法則    3.2    良率    3.3    測量品質(zhì)的缺陷等級      3.3.1    測試數(shù)據(jù)分析      3.3.2    缺陷級別評估    3.4    小結(jié)    3.5    習(xí)題  第4章    故障模型    4.1    缺陷、錯誤和故障    4.2    功能測試與結(jié)構(gòu)測試    4.3    故障模型的級別    4.4    故障模型術(shù)語表    4.5    單固定故障      4.5.1    故障等價      4.5.2    單固定故障的等價      4.5.3    故障壓縮      4.5.4    故障支配和檢測點定理    4.6    小結(jié)    4.7    習(xí)題第二部分    測試方法  第5章    邏輯與故障模擬    5.1    用于設(shè)計驗證的模擬    5.2    用于測試評估的模擬    5.3    用于模擬的模型電路      5.3.1    模型的層次與模擬器類型      5.3.2    層次連接描述      5.3.3    MOS 網(wǎng)絡(luò)的門級模型      5.3.4    模擬信號的狀態(tài)      5.3.5    時序    5.4    用于真值模擬的算法      5.4.1    編碼模擬      5.4.2    事件驅(qū)動模擬    5.5    故障模擬算法      5.5.1    串行故障模擬      5.5.2    并行故障模擬      5.5.3    推演故障模擬      5.5.4    并發(fā)故障模擬      5.5.5    Roth的TEST-DETECT算法      5.5.6    微分故障模擬    5.6    故障模擬的統(tǒng)計學(xué)方法      5.6.1    故障取樣    5.7    小結(jié)    5.8    習(xí)題  第6章    可測試性度量    6.1    SCOAP可控制性和可觀測性      6.1.1    組合SCOAP度量      6.1.2    組合電路的例子      6.1.3    時序SCOAP度量      6.1.4    時序電路的例子    6.2    高層次可測試性度量    6.3    小結(jié)    6.4    習(xí)題  第7章    組合電路測試生成……  第8章    時序電路的測試矢量生成  第9章    存儲器測試  第10章    基于DSP模擬和混合信號測試  第11章    基于模型的模擬和混合信號測試  第12章    延遲測試  第13章    IDDQ測試第三部分    可測試性設(shè)計  第14章    數(shù)字電路DFT和掃描設(shè)計  第15章    內(nèi)建自測試  第16章    邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)  第17章    模擬測試總線標(biāo)準(zhǔn)  第18章    系統(tǒng)測試和基于核的設(shè)計  第19章    測試的未來附錄A    循環(huán)冗余碼理論附錄B    級數(shù)從1到100的本原多項式附錄C    有關(guān)測試的書籍參考文獻

媒體關(guān)注與評論

　　現(xiàn)代的電子設(shè)計與測試工程師需要處理數(shù)字、存儲器和混合信號等幾類子系統(tǒng)，每一類都需要不同的測度和可測試性設(shè)計方法。本書提供了精心選擇的所有這三類電路的重要測試課題。測試的目的是提高產(chǎn)品質(zhì)量，它意味著“以最小的代價滿足用戶的需求”。本書包含了確定VLSI芯片級缺陷的測試經(jīng)濟學(xué)和技術(shù)。它除了可以作為測試課程的教材外，還是電子器件、系統(tǒng)或系統(tǒng)芯片等領(lǐng)域的工程師的一個完整的可測試性指南。

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