射線檢測(cè)

內(nèi)容概要

本書(shū)是中國(guó)機(jī)械工程學(xué)會(huì)無(wú)損檢測(cè)分會(huì)推薦使用的高等院校無(wú)損檢測(cè)
專業(yè)及其相關(guān)專業(yè)參考教材之一（全套教材計(jì)有：射線檢測(cè)、超聲檢測(cè)、電
磁檢測(cè)）。書(shū)中系統(tǒng)地介紹了射線檢測(cè)的基礎(chǔ)理論知識(shí)，射線透照工藝分析
和射線檢測(cè)方面的新技術(shù)，反映了近年來(lái)射線檢測(cè)方面的新成果。內(nèi)容包
括：原子和基本粒子、原子核和放射性衰變、射線與物質(zhì)的相互作用、射線
檢測(cè)工藝規(guī)范、有效透照范圍缺陷檢出的可能性、對(duì)典型射線照相的分析、
射線實(shí)時(shí)成像、高能射線檢測(cè)、工業(yè)CT技術(shù)和高速射線檢測(cè)技術(shù)等。書(shū)中
有200余幅插圖和典型的缺陷照片。
本書(shū)的主要讀者對(duì)象是大專院校無(wú)損檢測(cè)專業(yè)及相關(guān)專業(yè)的學(xué)生和教
師、從事無(wú)損檢測(cè)工作的高、中級(jí)技術(shù)人員，也可作為無(wú)損檢測(cè)高級(jí)人員培
訓(xùn)參考教材和有關(guān)質(zhì)量管理人員、安全監(jiān)察人員在工作中參考。

書(shū)籍目錄

目 錄
前言
1射線檢測(cè)物理基礎(chǔ)
1.1原子和基本粒子
1.1.1原子的核模型
1.1.2玻爾的氫原子理論
1.1.3原子的殼層結(jié)構(gòu)
1.1.4基本粒子
1.2原子核和放射性衰變
1.2.1核結(jié)構(gòu)模型
1.2.2原子核的基本性質(zhì)
1.2.3放射性衰變
1.3X射線和Υ射線的性質(zhì)
1.3.1X射線的本質(zhì)和一般性質(zhì)
1.3.2連續(xù)X射線
1.3.3標(biāo)識(shí)X射線
1.3.4X射線譜
1.3.5Υ射線和穆斯堡爾效應(yīng)
1.4射線與物質(zhì)的相互作用
1.4.1光電效應(yīng)
1.4.2相干散射
1.4.3康－吳散射
1.4.4電子對(duì)效應(yīng)
1.4.5俄歇效應(yīng)和熒光輻射
1.5射線貫穿物質(zhì)后的減弱和
強(qiáng)度計(jì)算
1.5.1射線貫穿物質(zhì)后的減弱
1.5.2連續(xù)X射線的譜線分布
計(jì)算和線質(zhì)
1.5.3散亂X射線的計(jì)算和測(cè)量
1.6射線探傷原理
2射線檢測(cè)工藝
2.1射線透照靈敏度
2.1.1射線照相影像的質(zhì)量因素
2.1.2IQI靈敏度
2.1.3IQI靈敏度與射線照相
技術(shù)因素的關(guān)系
2.2透照規(guī)范與曝光曲線
2.2.1引言
2.2.2透照電壓的最高值和最低值
2.2.3焦距的最短值
2.2.4曝光量的最低適宜值
2.2.5曝光曲線
2.2.6曝光曲線的應(yīng)用和制作
2.2.7X光膠片感光特性曲線和
曝光曲線的修正
2.2.8射線照相時(shí)的工藝措施
2.3有效透照范圍
2.3.1引言
2.3.2射線照相的厚度寬容度
2.3.3平板射線照相的有效透照
范圍
2.3.4圓環(huán)射線照相的有效透照
范圍
2.3.5圓柱射線照相的有效透照
范圍
2.3.6圓管射線照相的有效透照
范圍
2.4缺陷的可檢出性
2.4.1引言
2.4.2體積類缺陷的可檢出性
2.4.3分散細(xì)小缺陷的可檢出性
2.4.4面狀缺陷的可檢出性
2.4.5缺陷的可檢出性與絲型
IQI靈敏度的關(guān)系
2.4.6不同位置缺陷的可檢出性
2.5鑄件的射線照相
2.5.1鑄件射線照相的基本原理
2.5.2鑄件射線照相的一般技術(shù)
2.5.3鑄件射線照相的顯示
2.6焊縫的射線照相
2.6.1焊縫射線照相原理
2.6.2焊縫的射線照相工藝
2.7平板試件的透照
2.7.1透照條件的確定
2.7.2考慮到透照靈敏度的曝光
曲線圖
2.8有余高試件的透照
2.8.1帶余高試件的散射比的計(jì)算
方法及其測(cè)量
2.8.2余高對(duì)射線底片對(duì)比度的
影響
3射線檢測(cè)新技術(shù)
3.1射線實(shí)時(shí)成像
3.1.1射線實(shí)時(shí)成像原理
3.1.2熒光屏
3.1.3像質(zhì)與射線成像參數(shù)
3.1.4射線源
3.1.5遠(yuǎn)距離觀察系統(tǒng)
3.1.6射線實(shí)時(shí)成像中的圖像優(yōu)化
3.1.7微焦點(diǎn)射線實(shí)時(shí)成像
3.2高能射線檢測(cè)
3.2.1高能射線設(shè)備概述
3.2.2高能輻射特性
3.2.3檢測(cè)靈敏度和影像質(zhì)量
3.2.4高能X射線照相應(yīng)用的
幾個(gè)問(wèn)題
3.2.5高能檢測(cè)用加速器的發(fā)展
趨勢(shì)
3.3中子射線檢測(cè)法
3.3.1中子射線檢測(cè)原理及其特點(diǎn)
3.3.2中子射線源的類型與選用
3.3.3中子圖像檢測(cè)器
3.3.4中子射線照相的應(yīng)用
3.4運(yùn)動(dòng)中的射線照相
3.4.1運(yùn)動(dòng)中射線照相的特點(diǎn)
3.4.2運(yùn)動(dòng)中射線照相的適用環(huán)境
3.4.3運(yùn)動(dòng)中射線照相應(yīng)用舉例
3.4.4運(yùn)動(dòng)中射線照相步移技術(shù)
3.5工業(yè)射線CT技術(shù)
3.5.1CT技術(shù)基本原理
3.5.2射線CT的新進(jìn)展
3.5.3射線CT的評(píng)價(jià)參數(shù)
3.5.4射線CT的應(yīng)用舉例
3.6背散射檢測(cè)技術(shù)
3.6.1康普頓背散射成像原理
3.6.2康普頓背散射成像的
靈敏度與襯度
3.6.3康普頓背散射系統(tǒng)
3.6.4背散射測(cè)厚系統(tǒng)
3.6.5β背散射檢測(cè)技術(shù)
3.7輻射檢測(cè)技術(shù)
3.7.1最佳輻射源的選擇
3.7.2輻射檢測(cè)器
3.8圖像數(shù)據(jù)分析
3.8.1數(shù)字化圖像
3.8.2圖像增強(qiáng)方法
3.8.3圖像數(shù)據(jù)處理
3.8.4圖像數(shù)據(jù)分析應(yīng)用舉例
3.9高速射線照相技術(shù)
3.9.1高速射線照相用X射線管
3.9.2高速射線照相圖像
3.9.3高速射線照相的應(yīng)用
參考文獻(xiàn)

圖書(shū)封面

評(píng)論、評(píng)分、閱讀與下載

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