數(shù)字集成電路

出版時(shí)間:2012-3  出版社:電子工業(yè)出版社  作者:(美)拉貝艾,(美)錢德卡桑,(美)尼克里克 著  頁數(shù):761  譯者:Jan M. Rabaey(簡(jiǎn) M. 拉貝艾)等  
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內(nèi)容概要

《數(shù)字集成電路--電路系統(tǒng)與設(shè)計(jì)(第2版英文版)》(作者拉貝艾、錢德卡桑、尼克里克)分三部分:基本單元、電路設(shè)計(jì)和系統(tǒng)設(shè)計(jì)。在對(duì)MOS
器件和連線的特性做了簡(jiǎn)要介紹之后,深入分析了反相器,并逐步將這些知識(shí)延伸到組合邏輯電路、時(shí)序邏輯電路、控制器、運(yùn)算電路及存儲(chǔ)器這些復(fù)雜數(shù)字電路與系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中。本書以0.25微米CMOS工藝的實(shí)際電路為例,討論了深亞微米器件效應(yīng)、電路最優(yōu)化、互連線建模和優(yōu)化、信號(hào)完整性、時(shí)序分析、時(shí)鐘分配、高性能和低功耗設(shè)計(jì)、設(shè)計(jì)驗(yàn)證、芯片測(cè)試和可測(cè)性設(shè)計(jì)等主題,著重探討了深亞微米數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)面臨的挑戰(zhàn)和啟示。本書內(nèi)容已根據(jù)作者和中文版譯者整理的勘誤表進(jìn)行了更正。
《數(shù)字集成電路--電路系統(tǒng)與設(shè)計(jì)(第2版英文版)》可作為高等院校電子科學(xué)與技術(shù)、電子與信息工程、計(jì)算機(jī)科學(xué)與技術(shù)等專業(yè)高年級(jí)本科生和研究生有關(guān)數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)方面課程的雙語教學(xué)教材,也可作為從事這一領(lǐng)域的工程技術(shù)人員的參考書。

書籍目錄

Part 1 The Fabrics
Chapter 1 Introduction
1.1 A Historical Pepective
1.2 Issues in Digital Integrated Circuit Design
1.3 Quality Metrics of a Digital Design
1.3.1 Cost of an Integrated Circuit
1.3.2 Functionality and Robustness
1.3.3 Performance
1.3.4 Power and Energy Coumption
1.4 Summary
1.5 To Probe Further
Reference Books
References
Chapter 2 The Manufacturing Process
Design Methodology Iert A IC LAYOUT
Chapter 3 The Devices
Design Methodology Iert B Circuit Simulation
Chapter 4 The Wire
Part 2 A Circuit Pepective
Charter 5 The CMOS Inverter
Chapter 6 Designing Combinational Logic Gates in CMOS
Design Methodology Iert C How to Simulate Complex Logic Circuits
Design Methodology Iert D Layout Techniques for Complex Gates
Chapter 7 Designing Sequential Logic Circuits
Part 3 A System Pepective
Chapter 8 Implementation Strategies for Digital ICS
Design Methodology Iert E Characterizing Logic and Sequential Cells
Design Methodology Iert F Design Synthesis
Chapter 9 Coping with Interconnect
Chapter 10 Timing Issues in Digital Circuits
Design Methodology Iert G Design Verification
Chapter 11 Designing Arithmetic Building Blocks
Chapter 12 Designing Memory and Array Structures
Design Methodology Iert H Validation and Test of Manufactured
Circuits
Problem Solutio
Index

編輯推薦

  《國(guó)外電子與通信教材系列·數(shù)字集成電路:電路、系統(tǒng)與設(shè)計(jì)(第2版)(英文版)》特點(diǎn):只關(guān)注深亞微米CMOS器件。開發(fā)了一個(gè)用于手工分析的稱為“通用MOS模型”的晶體管簡(jiǎn)單模型,并在全書中采用。設(shè)計(jì)舉例從實(shí)際出發(fā),強(qiáng)調(diào)數(shù)字集成電路的設(shè)計(jì)。突出了設(shè)計(jì)中的難點(diǎn)和設(shè)計(jì)指導(dǎo)。所有例子和思考題都采用0.25微米CMOS工藝?!霸O(shè)計(jì)方法插入說明”分散地穿插在書中,強(qiáng)調(diào)了設(shè)計(jì)方法學(xué)和設(shè)計(jì)工具在今天的設(shè)計(jì)過程中的重要性。每章末尾的綜述探討了未來的技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)?! ∽员緯谝话嬗?996年出版以來,CMOS制造工藝?yán)^續(xù)以驚人的速度向前推進(jìn),工藝特征尺寸越來越小,而電路也變得越來越復(fù)雜,這對(duì)設(shè)計(jì)者的設(shè)計(jì)技術(shù)提出了新的挑戰(zhàn)。器件在進(jìn)入深亞微米范圍后有了很大的不同,從而帶來了許多影響數(shù)字集成電路的成本、性能、功耗和可靠性的新問題。本書第二版反映了進(jìn)入深亞微米范圍后所引起的數(shù)字集成電路領(lǐng)域的深刻變化和新進(jìn)展,特別是深亞微米晶體管效應(yīng)、互連、信號(hào)完整性、高性能與低功耗設(shè)計(jì)、時(shí)序及時(shí)鐘分布等,起著越來越重要的作用。與第一版相比,這個(gè)版本更全面集中地介紹了CMOS集成電路?! ∵@個(gè)網(wǎng)站是個(gè)動(dòng)態(tài)的指南。通過網(wǎng)站提供指導(dǎo)材料,更便于對(duì)這些材料隨時(shí)進(jìn)行擴(kuò)充。網(wǎng)站包括了本書的完整PPT文件,覆蓋了書中全部?jī)?nèi)容、修訂、勘誤、設(shè)計(jì)課題以及詳盡的教師授課用教輔資料。特別需要指出的是,本書所有習(xí)題已放在網(wǎng)站上(書中不含習(xí)題)。

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用戶評(píng)論 (總計(jì)6條)

 
 

  •   這本書就是數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)透視,一本經(jīng)典教材,值得拜讀
  •   值得擁有的好書 這本書是數(shù)字集成電路的經(jīng)典教材
  •   好……好大一本。很滿意,經(jīng)典。
  •   快遞很快的,昨天晚上拍的今天下午就到了。書很不錯(cuò)!
  •   Rabaey的這本書無論是在國(guó)內(nèi)還是國(guó)外的頂級(jí)學(xué)府都被尊為數(shù)字電路的主要教材。非常值得一讀。
  •   數(shù)字集成電路的經(jīng)典!
 

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